Маршевые тесты для тестирования ОЗУ

Монография написана на основании результатов научных исследований проводимых НИЛ 3.3 Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники. Первые две главы посвящены анализу существующих методов тестирования современных ОЗУ. Показывается, что безальтернативным решением является применение неразрушающих маршевых тестов реализуемых в процедурах самотестирования ОЗУ. В третьей главе представлены результаты развития теории адаптивного сигнатурного анализа как универсального метода определения эталонных характеристик для произвольного теста и объекта тестирования – ОЗУ. Четвертая и пятая главы содержат материал, относящийся к симметричным маршевым тестам. Последующие три главы касаются вопросов многократного тестирования ОЗУ с применением маршевых тестов. Целевыми неисправностями при реализации тестов произвольной кратности являются кодочувствительные неисправности, которые описывают практически все множество возможных физических дефектов ОЗУ. Последняя глава содержит результаты по проектированию средств самотестирования современных ОЗУ. Рассматриваются вопросы, связанные с моделированием неисправностей ОЗУ на ранних стадиях их проектирования.